Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research
Wedi'i Gadw mewn:
| Awduron Eraill: | , , |
|---|---|
| Fformat: | Livre numérique |
| Iaith: | Anglais |
| Cyhoeddwyd: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Mynediad Ar-lein: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nodyn: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Impact of electron and scanning probe microscopy on materials research, edited by David G. Rickerby, Giovanni, Valdrè, Ugo Valdrè, Dordrecht, Kluwer Academic Publishers, 1999, 1 vol. (XXIV-489 p.), NATO science series, 0-7923-5939-9 |