Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Materials Research

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Dades bibliogràfiques
Altres autors: Valdrè, Giovanni (Col·laborador), Rickerby, David G. (Col·laborador), Valdrè, Ugo (Col·laborador)
Format: Livre numérique
Idioma:Anglais
Publicat: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Impact of electron and scanning probe microscopy on materials research, edited by David G. Rickerby, Giovanni, Valdrè, Ugo Valdrè, Dordrecht, Kluwer Academic Publishers, 1999, 1 vol. (XXIV-489 p.), NATO science series, 0-7923-5939-9
Descripció
Descripció de l’ítem:Archives Springer e-books (Licence nationale)
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ISBN:9789401144513
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