Particle Image Velocimetry : Progress towards Industrial Application

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Autres auteurs: Kompenhans, J. (Collaborateur), Stanislas, M. (Collaborateur), Westerweel, J. (Collaborateur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Edition sous un autre format:• Particle Image Velocimetry, Progress towards Industrial Application

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