Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Guardat en:
| Autors principals: | , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicat: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accés en línia: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Analytical Electron Microscopy for Materials Science, D. Shindo, T. Oikawa, 1999, Tokyo, Springer, 1 vol. (IX-152 p.), 4-431-70336-5 |