Lock-in Thermography : Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखकों: Breitenstein, Otwin, 19..-, Langenkamp, Martin, 1964- (लेखक)
स्वरूप: Livre numérique
भाषा:Anglais
प्रकाशित: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
ऑनलाइन पहुंच:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
टिप्पणी: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Lock-in Thermography, Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components

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