Lock-in Thermography : Basics and Use for Functional Diagnostics of Electronic Components

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Auteurs principaux: Breitenstein, Otwin, 19..-, Langenkamp, Martin, 1964- (Auteur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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