Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l Optique des Rayons X et la Microanalyse : Tübingen, September 9th-14th, 1968
Enregistré dans:
| Autres auteurs: | Gaukler, K. H. (Collaborateur), Möllenstedt, G. (Collaborateur) |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l Optique des Rayons X et la Microanalyse, Tübingen, September 9th-14th, 1968 |
Documents similaires
-
Microanalyse du rythme
(Article ou chapitre numérique)
Devouche, Emmanuel, et autres
, 2001 -
Microscopy, microanalysis, microstructures.
(Revue numérique)
Ed. de physique, 1990 - Microscopy Microanalysis Microstructures. (Revue numérique)
-
Electron probe microanalysis
(Livre papier)
Birks, Laverne Stanley
Interscience, 1963 -
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis : Third Edition
(Livre numérique)
Goldstein, Joseph, 1939-...., chimiste, et autres

