Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak: Díaz, Carlos Hernando, 1961-, Duvvury, Charvaka (Egilea), Kang, Sung-Mo (Egilea)
Formatua: Livre numérique
Hizkuntza:Anglais
Argitaratua: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Sarrera elektronikoa:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Oharra: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits, 978-1-4613-6205-0

Internet

Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL