Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Gardado en:
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicado: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acceso en liña: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
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| Edition sous un autre format: | • Integrated circuit defect-sensitivity, theory and computational models, by José Pineda de Gyvez, Boston, Kluwer Academic Publishers, 1993, xxiv, 167 p., The Kluwer internatioanl series in engineering and computer science, 0-7923-9306-6 |
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