Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

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Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Pineda de Gyvez, José, électronicien
Format: Livre numérique
Sprog:Anglais
Udgivet: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Edition sous un autre format:• Integrated circuit defect-sensitivity, theory and computational models, by José Pineda de Gyvez, Boston, Kluwer Academic Publishers, 1993, xxiv, 167 p., The Kluwer internatioanl series in engineering and computer science, 0-7923-9306-6

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