Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Salvato in:
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Livre numérique |
| Lingua: | Anglais |
| Pubblicazione: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accesso online: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Integrated circuit defect-sensitivity, theory and computational models, by José Pineda de Gyvez, Boston, Kluwer Academic Publishers, 1993, xxiv, 167 p., The Kluwer internatioanl series in engineering and computer science, 0-7923-9306-6 |
| Descrizione del documento: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9781461531586 |
| Accesso: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |