An Artificial Intelligence Approach to Test Generation

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Singh, Narinder
פורמט: Livre numérique
שפה:Anglais
יצא לאור: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
גישה מקוונת:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
הערה: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• An Artificial Intelligence Approach to Test Generation, 978-1-4612-9183-1

פריטים דומים