Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
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| Další autoři: | , , |
|---|---|
| Médium: | Livre numérique |
| Jazyk: | Anglais |
| Vydáno: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| On-line přístup: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Poznámka: |
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| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis, edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell, New York, Plenum Press, 1998, xix, 430 p., Methods of surface characterization, 0-306-45896-9 |