Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
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|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Sprog: | Anglais |
| Udgivet: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online adgang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Kommentar: |
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| Edition sous un autre format: | • Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis, edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell, New York, Plenum Press, 1998, xix, 430 p., Methods of surface characterization, 0-306-45896-9 |