Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Wedi'i Gadw mewn:
| Awduron Eraill: | , , |
|---|---|
| Fformat: | Livre numérique |
| Iaith: | Anglais |
| Cyhoeddwyd: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Mynediad Ar-lein: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nodyn: |
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| Edition sous un autre format: | • Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis, edited by Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell, New York, Plenum Press, 1998, xix, 430 p., Methods of surface characterization, 0-306-45896-9 |
| Disgrifiad o'r Eitem: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9780306469145 |
| Mynediad: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |