Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | Bhattacharya, Debashis, Hayes, John P. (VerfasserIn) |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Sprache: | Anglais |
| Veröffentlicht: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online Zugang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Anmerkung: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing, 978-1-4612-8819-0 |
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