Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bushnell, Michael Lee, 1950-, Agrawal, Vishwani D., 1943-...., électronicien (VerfasserIn)
Format: Livre numérique
Sprache:Anglais
Veröffentlicht: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Online Zugang:Accès sur la plateforme de l'éditeur
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Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Anmerkung: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits, Michael L. Bushnell,... Vishwani D. Agrawal,..., Boston (MA), Kluwer Academic publ., 2000, xviii, 690 p., Frontiers in electronic testing, 0-7923-7991-8
LEADER 01962nam a22002897a 4500
001 958922
008 190906q2000 xxe ||| |||| 00| 0 eng d
009 PPN237929015
020 |a 9780306470400 
024 |a 9780306470400 
041 0 |a eng 
100 1 |a Bushnell, Michael Lee,  |d 1950- 
245 1 0 |a Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits   |c Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal. 
260 |a Cham :  |b Springer International Publishing. 
260 |a Cham :  |b Springer Nature,  |c [20..]. 
500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
700 1 |a Agrawal, Vishwani D.,  |d 1943-....,  |c électronicien.  |4 aut 
776 0 |0 074429310  |t Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits  |f Michael L. Bushnell,... Vishwani D. Agrawal,...  |c Boston (MA)  |n Kluwer Academic publ.  |d 2000  |p xviii, 690 p.  |s Frontiers in electronic testing  |z 0-7923-7991-8 
856 4 |q PDF  |u https://doi.org/10.1007/b117406  |z Accès sur la plateforme de l'éditeur 
856 4 |u https://revue-sommaire.istex.fr/ark:/67375/8Q1-KFS0JMQ0-R  |z Accès sur la plateforme Istex 
856 4 |5 452349901:749613289  |u https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://doi.org/10.1007/b117406  |z Accès Université d'Orléans 
856 4 |5 180339901:752361430  |u https://ezproxy.insa-cvl.fr/login?qurl=https://doi.org/10.1007/b117406  |z Accès INSA CVL 
997 |0 958922  |1 Livre numérique  |a Ressource numérique  |b INSA  |b ENSA  |c 0/Bibliothèque numérique/  |c 1/Bibliothèque numérique/Autre ressource numérique/