Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awduron: | , |
|---|---|
| Fformat: | Livre numérique |
| Iaith: | Anglais |
| Cyhoeddwyd: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Mynediad Ar-lein: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nodyn: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits, Michael L. Bushnell,... Vishwani D. Agrawal,..., Boston (MA), Kluwer Academic publ., 2000, xviii, 690 p., Frontiers in electronic testing, 0-7923-7991-8 |
| Disgrifiad o'r Eitem: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9780306470400 |
| Mynediad: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |

