Test and diagnosis for small-delay defects
This book introduces new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects (SDD) in integrated circuits. Although this sort of timing defect is commonly found in integrated circuits manufactured with nanometer technology, this will be the first book to introduce effective and scalable meth...
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| Auteurs principaux: | , , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York, NY :
Springer New York
2012.
Cham : Springer Nature |
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| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Test and Diagnosis for Small-Delay Defects, Texte imprimé, 9781441982964 • Test and Diagnosis for Small-Delay Defects, Texte imprimé, 9781441982988 • Test and Diagnosis for Small-Delay Defects, Texte imprimé, 9781489989529 |