Atom probe microscopy
Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the development of wide-field-of-view detectors and puls...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Livre numérique |
| اللغة: | Anglais |
| منشور في: |
New York, NY :
Springer New York
2012.
Cham : Springer Nature |
| سلاسل: | Springer Series in Materials Science
160 |
| الوصول للمادة أونلاين: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| ملاحظة: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Atom Probe Microscopy, Texte imprimé, 9781461434351 • Atom Probe Microscopy, Texte imprimé, 9781461434375 • Atom Probe Microscopy, Texte imprimé, 9781489989390 |