Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission...
保存先:
| 第一著者: | |
|---|---|
| その他の著者: | , |
| フォーマット: | Livre numérique |
| 言語: | Anglais |
| 出版事項: |
New York, NY :
Springer New York
2012.
Cham : Springer Nature |
| シリーズ: | Nanostructure Science and Technology
|
| オンライン･アクセス: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| 注記: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy, Texte imprimé, 9781489997289 • Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy, Texte imprimé, 9781461421924 • Modeling nanoscale imaging in electron microscopy, Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter Binev, editors, New York, Springer, 2012, 1 vol. (ix-182 p.), Nanostructure science and technology, 978-1-461-42190-0 |