Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers
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| Altri autori: | , |
|---|---|
| Natura: | Livre numérique |
| Lingua: | Anglais |
| Pubblicazione: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accesso online: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers, 978-3-642-79680-7 |