Quantitative X-Ray Diffractometry

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Auteurs principaux: Zevin, Lev S., Kimmel, Giora (Auteur)
Autres auteurs: Mureinik, Inez (Collaborateur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
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Note: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Quantitative X-Ray Diffractometry, 978-1-4613-9537-9

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