Defects in SiO

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Altri autori: Pacchioni, Gianfranco, 1954- (Collaboratore), Griscom, David L. (Collaboratore), Skuja, Linards (Collaboratore)
Natura: Livre numérique
Lingua:Anglais
Pubblicazione: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Accesso online:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• Defects in SiO2 and related dielectrics, science and technology, edited by G. Pacchioni, L. Skuja, D.L. Griscom, Dordrecht, Netherlands, Kluwer Academic Publishers, 2000, 1 vol. (VIII-624 p.), NATO science series, 0-7923-6685-9
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506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
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