Defects in SiO
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|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Defects in SiO2 and related dielectrics, science and technology, edited by G. Pacchioni, L. Skuja, D.L. Griscom, Dordrecht, Netherlands, Kluwer Academic Publishers, 2000, 1 vol. (VIII-624 p.), NATO science series, 0-7923-6685-9 |