Defects in SiO
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| Andere auteurs: | , , |
|---|---|
| Formaat: | Livre numérique |
| Taal: | Anglais |
| Gepubliceerd in: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Online toegang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Opmerking: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Defects in SiO2 and related dielectrics, science and technology, edited by G. Pacchioni, L. Skuja, D.L. Griscom, Dordrecht, Netherlands, Kluwer Academic Publishers, 2000, 1 vol. (VIII-624 p.), NATO science series, 0-7923-6685-9 |
| Beschrijving item: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9789401009447 |
| Toegang: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |