High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
Guardado en:
| Autores principales: | , |
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| Formato: | Livre numérique |
| Lenguaje: | Anglais |
| Publicado: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Acceso en línea: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • High-resolution electron microscopy for materials science, D. Shindo, K. Hiraga, 1998, Tokyo, Springer, 1 vol. (IX-190 p.), 4-431-70234-2 |
| Notas: | Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
|---|---|
| ISBN: | 9784431684220 |
| Acceso: | Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 |