High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Auteurs principaux: Orloff, Jon, Swanson, Lynwood (Auteur), Utlaut, Mark (Auteur)
Formato: Livre numérique
Idioma:Anglais
Publicado: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Acceso en liña:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications, The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology
LEADER 02010nam a22003137a 4500
001 953038
008 190906q2000 xxe ||| |||| 00| 0 eng d
009 PPN238046087
020 |a 9781461507659 
024 |a 9781461507659 
041 0 |a eng 
082 |a 621.38152 
100 1 |a Orloff, Jon. 
245 1 0 |a High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications :  |b The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology   |c Jon Orloff, Mark Utlaut, Lynwood Swanson. 
260 |a Cham :  |b Springer International Publishing. 
260 |a Cham :  |b Springer Nature,  |c [20..]. 
500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
500 |a Archives Springer e-books (Licence nationale) 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
700 1 |a Swanson, Lynwood.  |4 aut 
700 1 |a Utlaut, Mark.  |4 aut 
776 0 |t High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications  |o The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology 
856 4 |q PDF  |u https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0765-9  |z Accès sur la plateforme de l'éditeur 
856 4 |u https://revue-sommaire.istex.fr/ark:/67375/8Q1-KGFJB45H-C  |z Accès sur la plateforme Istex 
856 4 |5 452349901:748117547  |u https://ezproxy.univ-orleans.fr/login?url=https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0765-9  |z Accès Université d'Orléans 
856 4 |5 180339901:751572098  |u https://ezproxy.insa-cvl.fr/login?qurl=https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0765-9  |z Accès INSA CVL 
997 |0 953038  |1 Livre numérique  |a Ressource numérique  |b INSA  |b ENSA  |c 0/Bibliothèque numérique/  |c 1/Bibliothèque numérique/Autre ressource numérique/