High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autori: Orloff, Jon, Swanson, Lynwood (Autor), Utlaut, Mark (Autor)
Format: Livre numérique
Jezik:Anglais
Izdano: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Online pristup:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Bilješka: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications, The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Internet

Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL