High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autors principals: Orloff, Jon, Swanson, Lynwood (Autor), Utlaut, Mark (Autor)
Format: Livre numérique
Idioma:Anglais
Publicat: Cham : Springer International Publishing [20..].
Cham : Springer Nature
Accés en línia:Accès sur la plateforme de l'éditeur
Accès sur la plateforme Istex
Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
Nota: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:• High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications, The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology
Descripció
Descripció de l’ítem:Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
ISBN:9781461507659
Accés:Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales
Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement
Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017