Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials : Scanning Probe Microscopy Approach
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|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicat: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
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| Nota: |
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| Edition sous un autre format: | • Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials, Scanning Probe Microscopy Approach |