Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices
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| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Cham :
Springer International Publishing
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
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| Edition sous un autre format: | • Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices, 978-1-4757-1354-1 |