Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics : Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s. There have been many progress on modeling, imaging, teleoperated or automated control, human-m...

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Auteurs principaux: Xie, Hui, Onal, Cagdas (Auteur), Régnier, Stéphane, 1968-...., chercheur en robotique (Auteur), Sitti, Metin (Auteur)
Format: Livre numérique
Langue:Anglais
Publié: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg [20..].
Cham : Springer Nature
Collection:Springer Tracts in Advanced Robotics 71
Sujets:
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Note: L'impression du document génère 350 p.
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics, Texte imprimé, 9783642203282
• Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics, Texte imprimé, 9783642445019
• Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics, Texte imprimé, 9783642203305
Table des matières:
  • Descriptions and challenges of AFM based nanorobotic systems Instrumentation issues of an AFM based nanorobotic system Nanomechanics of AFM based nanomanipulation Teleoperation based AFM manipulation control Automated control of AFM based nanomanipulation Applications of AFM based nanorobotic systems