Analog IC reliability in nanometer CMOS
This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit r...
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| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Sprache: | Anglais |
| Veröffentlicht: |
New York, NY :
Springer New York
2013.
Cham : Springer Nature |
| Schriftenreihe: | Analog Circuits and Signal Processing
|
| Online Zugang: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Anmerkung: |
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| Edition sous un autre format: | • Analog IC Reliability in Nanometer CMOS, Texte imprimé, 9781461461623 • Analog IC Reliability in Nanometer CMOS, Texte imprimé, 9781489986306 • Analog IC Reliability in Nanometer CMOS, Texte imprimé, 9781461461647 |