Fault diagnosis of analog integrated circuits
System on Chip (SOC) having both digital and analog circuits has become increasingly prevalent in integrated circuit manufacturing industry. Electronic tests are classified as digital, analog and mixed signal. Current methodologies for the testing of digital circuits are well developed. In contrast,...
Gardado en:
| Auteurs principaux: | , , |
|---|---|
| Formato: | Livre numérique |
| Idioma: | Anglais |
| Publicado: |
New York, NY :
Springer US
2005.
Cham : Springer Nature |
| Series: | Frontiers in Electronic Testing
30 |
| Acceso en liña: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Nota: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Texte imprimé, 9780387257426 • Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Texte imprimé, 9781441938282 • Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Texte imprimé, 9780387506869 |