Fault diagnosis of analog integrated circuits
System on Chip (SOC) having both digital and analog circuits has become increasingly prevalent in integrated circuit manufacturing industry. Electronic tests are classified as digital, analog and mixed signal. Current methodologies for the testing of digital circuits are well developed. In contrast,...
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| Auteurs principaux: | , , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
New York, NY :
Springer US
2005.
Cham : Springer Nature |
| Collection: | Frontiers in Electronic Testing
30 |
| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
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| Edition sous un autre format: | • Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Texte imprimé, 9780387257426 • Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Texte imprimé, 9781441938282 • Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits, Texte imprimé, 9780387506869 |