Data Mining and Diagnosing IC Fails
Datamining and Diagnosing Integrated Circuit Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) Integrated Circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to...
保存先:
| 第一著者: | Huisman, Leendert M. |
|---|---|
| フォーマット: | Livre numérique |
| 言語: | Anglais |
| 出版事項: |
New York, NY :
Springer US
2005.
Cham : Springer Nature |
| シリーズ: | Frontiers in Electronic Testing
31 |
| オンライン・アクセス: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| 注記: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Data Mining and Diagnosing IC Fails, Texte imprimé, 9781441937674 • Data Mining and Diagnosing IC Fails, Texte imprimé, 9780387505541 • Data Mining and Diagnosing IC Fails, Texte imprimé, 9780387249933 |
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