Data Mining and Diagnosing IC Fails

Datamining and Diagnosing Integrated Circuit Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) Integrated Circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to...

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書誌詳細
第一著者: Huisman, Leendert M.
フォーマット: Livre numérique
言語:Anglais
出版事項: New York, NY : Springer US 2005.
Cham : Springer Nature
シリーズ:Frontiers in Electronic Testing 31
オンライン・アクセス:Accès sur la plateforme de l'éditeur
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Accès Université d'Orléans
Accès INSA CVL
注記: Archives Springer e-books (Licence nationale)
Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Data Mining and Diagnosing IC Fails, Texte imprimé, 9781441937674
• Data Mining and Diagnosing IC Fails, Texte imprimé, 9780387505541
• Data Mining and Diagnosing IC Fails, Texte imprimé, 9780387249933

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