Analysis and design of resilient VLSI circuits : mitigating soft errors and process variations

This book is motivated by the challenges faced in designing reliable integratedsystems using modern VLSI processes. The reliable operation of Integrated Circuits (ICs) has become increasingly difficult to achieve in the deep sub-micron (DSM) era. With continuously decreasing device feature sizes, co...

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Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Garg, Rajesh, Khatri, Sunil P. (Auteur)
Formaat: Livre numérique
Taal:Anglais
Gepubliceerd in: New York, NY : Springer US 2010.
Cham : Springer Nature
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Edition sous un autre format:• Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits, Texte imprimé, 9781441909305
• Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits, Texte imprimé, 9781441909329
• Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits, Texte imprimé, 9781489985101

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