Analysis and design of resilient VLSI circuits : mitigating soft errors and process variations
This book is motivated by the challenges faced in designing reliable integratedsystems using modern VLSI processes. The reliable operation of Integrated Circuits (ICs) has become increasingly difficult to achieve in the deep sub-micron (DSM) era. With continuously decreasing device feature sizes, co...
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| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Μορφή: | Livre numérique |
| Γλώσσα: | Anglais |
| Έκδοση: |
New York, NY :
Springer US
2010.
Cham : Springer Nature |
| Διαθέσιμο Online: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Σημείωση: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits, Texte imprimé, 9781441909305 • Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits, Texte imprimé, 9781441909329 • Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits, Texte imprimé, 9781489985101 |