Electron backscatter diffraction in materials science
Electron backscatter diffraction (EBSD), when employed as an additional characterization technique to a scanning electron microscope (SEM), enables individual grain orientations, local texture, point-to-point orientation correlations, and phase identification and distributions to be determined routi...
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| Autres auteurs: | , , , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Boston, MA :
Springer US : Springer e-books
[20..].
Cham : Springer Nature |
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| Note: |
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| Edition sous un autre format: | • Electron backscatter diffraction in materials science, Adam J. Schwartz, Mukul Kumar, Brent L. Adams... [et al.], editors, 2nd edition, New York, Springer, 2009, 1 vol. (XXII-403 p.), 0-387-88135-2 |