Scan statistics : methods and applications
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| Auteurs principaux: | , , |
|---|---|
| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Boston :
Birkhäuser Boston : Springer e-books
[20..].
Cham : Springer Nature |
| Collection: | Statistics for Industry and Technology
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| Accès en ligne: | Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL |
| Note: |
Description d'après consultation du 02 mars 2012 Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Edition sous un autre format: | • Scan statistics, methods and applications, [in honor of Joseph I. Naus], Joseph Glaz, Vladimir Pozdnyakov, Sylvan Wallenstein, editors, Boston, Birkhäuser, 2009, 1 vol. (xxviii-394 p.), Statistics for industry and technology, 978-0-8176-4748-3 |