Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology :: SCD d'Orléans

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology

This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various mater...

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書誌詳細
第一著者:	Bhushan, Bharat, 1949-
フォーマット:	Livre numérique
言語:	Anglais
出版事項:	Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg [20..]. Cham : Springer Nature
版:	1st ed. 2010.
シリーズ:	NanoScience and Technology
主題:	Microscopie à sonde à balayage Matériaux nanostructurés > Microscopie
オンライン･アクセス:	Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL
注記:	With 462 figures L'impression du document génère 943 p. Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations:	Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:	• Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology, [1], Bharat Bhushan, editor, Berlin, Springer-Verlag, 2010, 1 vol. (XXX-956 p.), Nanoscience and technology, 978-3-642-03534-0

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