Synthetic Polymeric Membranes : Characterization by Atomic Force Microscopy
Tis book concentrates on atomic force microscopy (AFM), a method recently - veloped to study the surfaces of synthetic polymeric membranes. AFM is becoming a very important tool for the characterization of synthetic polymeric membranes. Te development of membranes of improved performance depends on...
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| Auteurs principaux: | , , |
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| Format: | Livre numérique |
| Langue: | Anglais |
| Publié: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
2008.
Cham : Springer Nature |
| Collection: | Springer Laboratory, Manuals in Polymer Science
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| Note: |
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| Edition sous un autre format: | • Synthetic Polymeric Membranes, Texte imprimé, 9783642093272 • Synthetic Polymeric Membranes, Texte imprimé, 9783540841784 • Synthetic polymeric membranes, characterization by atomic force microscopy, Kailash C. Khulbe, Berlin [u.a.], Springer, 2008, 1 vol. (XVII-197 p.), Springer laboratory, 3-540-73993-9 |