Applied scanning probe methods. IV, Industrial applications
The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf?cient to delineate single atoms. At ?rstthere were two the ScanningTunnelingMicroscope,or STM,andtheAtomicForceMic- scope, or AFM. The...
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| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | |
| বিন্যাস: | Livre numérique |
| ভাষা: | Anglais |
| প্রকাশিত: |
Berlin, Heidelberg :
Springer Berlin Heidelberg
[20..].
Cham : Springer Nature |
| সংস্করন: | 1st ed. 2006. |
| মালা: | NanoScience and Technology
|
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| টীকা: |
Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale) |
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| Edition sous un autre format: | • Applied scanning probe methods IV, industrial applications, edited by Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Berlin, Springer, 2006, Nanoscience and technology, 3-540-26912-6 • Applied Scanning Probe Methods IV, Texte imprimé, 9783642065972 • Applied Scanning Probe Methods IV, Texte imprimé, 9783540812661 |