Microscopy of semiconducting materials : proceedings of the 14th Conference, April 11 14, 2005, Oxford, UK

This is a long-established international biennial conference series, organised in conjunction with the Royal Microscopical Society, Oxford, the Institute of Physics, London and the Materials Research Society, USA. The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of...

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其他作者: Cullis, Anthony G. (Directeur de la publication), Hutchison, J. L. (Directeur de la publication)
格式: Livre numérique
语言:Anglais
出版: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg : Springer e-books [20..].
Cham : Springer Nature
丛编:Springer Proceedings in Physics 107
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提示: Archives Springer e-books (Licence nationale)
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Edition sous un autre format:• Microscopy of semiconducting materials, proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK, A.G. Cullis, J.L. Hutchison, (eds.), Berlin, Springer, 2005, 1 vol. (XVI-537 p.), Springer proceedings in physics, 3-540-31914-X
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505 1 |a Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides Epitaxy: Silicon-Germanium Alloys Epitaxy: Growth and Defect Phenomena High Resolution Microscopy and Nanoanalysis Self-Organised and Quantum Domain Structures Processed Silicon and Other Device Materials Device Studies Scanning Electron and Scanning Probe Advances 
506 |a Accès en ligne pour les établissements français bénéficiaires des licences nationales 
506 |a Accès soumis à abonnement pour tout autre établissement 
506 |a Conditions particulières de réutilisation pour les bénéficiaires des licences nationales. https://www.licencesnationales.fr/springer-nature-ebooks-contrat-licence-ln-2017 
520 |a This is a long-established international biennial conference series, organised in conjunction with the Royal Microscopical Society, Oxford, the Institute of Physics, London and the Materials Research Society, USA. The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction. Developments in materials science and technology covering the complete range of elemental and compound semiconductors are described in this volume 
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