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Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques

Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques

Nearly sixty years ago, the first successful demonstration of the transistor proved to be the herald of a new era of microelectronics. The ever-increasing complexity and functional speed of microelectronic circuits now containing tens of millions of transistors demand appropriate and rigorous test e...

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Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Grout, Ian A.
Format:	Livre numérique
Idioma:	Anglais
Publicat:	London : Springer London 2006. Cham : Springer Nature
Col·lecció:	Engineering (Springer-11647; ZDB-2-ENG)
Matèries:	Circuits intégrés > Essais
Accés en línia:	Accès sur la plateforme de l'éditeur Accès sur la plateforme Istex Accès Université d'Orléans Accès INSA CVL
Nota:	Archives Springer e-books (Licence nationale) Archives Springer e-books (Licence nationale)
Autres localisations:	Voir dans le Sudoc
Edition sous un autre format:	• Integrated Circuit Test Engineering, Texte imprimé, 9781846280238 • Integrated Circuit Test Engineering, Texte imprimé, 9781848004092

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