Aberration-corrected electron microscopy :: SCD d'Orléans

Aberration-corrected electron microscopy

Aberration-corrected electron microscopy

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Dades bibliogràfiques
Altres autors:	Hawkes, Peter William, 1937- (Editor)
Format:	Livre papier
Idioma:	Anglais
Publicat:	Amsterdam ; Boston : Elsevier : Academic Press 2008.
Col·lecció:	Advances in imaging and electron physics 153
Matèries:	Microscopie électronique en transmission Microscopie électronique à balayage et en transmission
Autres localisations:	Voir dans le Sudoc

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