Aberration-corrected electron microscopy

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書目詳細資料
其他作者: Hawkes, Peter William, 1937- (Éditeur intellectuel)
格式: Livre papier
語言:Anglais
出版: Amsterdam ; Boston : Elsevier : Academic Press 2008.
叢編:Advances in imaging and electron physics 153
主題:
Autres localisations: Voir dans le Sudoc
LEADER 00935nam a22002297a 4500
001 519510
008 090605s2008 xxe ||| |||| 00| 0 eng d
009 PPN134010299
020 |a 9780123742209 
020 |a 012374220X 
024 |a 9780123742209 
041 0 |a eng 
082 |a 621.367 
245 0 0 |a Aberration-corrected electron microscopy   |c edited by Peter W. Hawkes. 
260 |a Amsterdam ;  |a Boston :  |b Elsevier :  |b Academic Press,  |c 2008. 
300 |a 1 vol. (XV-538 p.) :  |b ill., [32] p. de pl. ;  |c 24 cm. 
490 1 |a Advances in imaging and electron physics  |v 153 
504 |a Notes bibliogr. Index 
650 |a Microscopie électronique en transmission 
650 |a Microscopie électronique à balayage et en transmission 
700 1 |a Hawkes, Peter William,  |d 1937-  |4 edt 
997 |0 519510  |1 Livre papier  |a Ressource papier  |c 0/Orléans/  |c 1/Orléans/BU Sciences, Technologies, STAPS/  |z Orléans, BU Sciences, Technologies, STAPS, 502.82 ABE