Aberration-corrected electron microscopy
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| Format: | Livre papier |
| Jezik: | Anglais |
| Izdano: |
Amsterdam ; Boston :
Elsevier : Academic Press
2008.
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| Serija: | Advances in imaging and electron physics
153 |
| Teme: | |
| Autres localisations: | Voir dans le Sudoc |
| Opis: | 1 vol. (XV-538 p.) : ill., [32] p. de pl. ; 24 cm. |
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| Bibliografija: | Notes bibliogr. Index |
| ISBN: | 9780123742209 012374220X |