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Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics

Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics

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Dades bibliogràfiques
Altres autors:	Claverie, Alain (Editor)
Format:	Livre papier
Idioma:	Anglais
Publicat:	London : Hoboken (N.J.) : ISTE ; John Wiley & Sons cop. 2013.
Col·lecció:	Nanoscience and nanotechnology series
Matèries:	Nanoélectronique Semiconducteurs Microscopie électronique en transmission
Autres localisations:	Voir dans le Sudoc

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